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Laboratório de Microscopia Eletrônica

O Laboratório de Microscopia Eletrônica do CDTN é composto por um microscópio eletrônico de varredura com emissão por efeito de campo (FEG-MEV), modelo SIGMA VP, fabricado pela Carl Zeiss Microscopy.  O equipamento opera nos modos de alto vácuo e de pressão variável (VP). No modo VP, é possível obter imagens de materiais não condutores de eletricidade, sem a necessidade de aplicação de recobrimentos condutores. Um diferencial do microscópio é coluna GEMINI®, cujo projeto permite que se obtenha excelente qualidade de imagens mesmo operando com baixas voltagens.

O equipamento dispõe de quatro detectores, sendo três detectores (2 para alto vácuo e um para pressão variável) de elétrons secundários, para obtenção de imagens a partir de contraste de topografia, e um detector de elétrons retroespalhados, para imagens obtidas a partir de contraste de número atômico.

O microscópio possui também um sistema de microanálise constituído por espectrômetro de energia dispersiva de raios X (EDS), modelo XFlash 410-M, fornecido pela Bruker Nano GmbH. O sistema é controlado pelo software ESPRIT e é capaz de realizar análises pontuais, varreduras em linha e obtenção de mapas de distribuição de elementos.

Microscópio Eletrônico de Varredura – CDTN

No equipamento é possível analisar amostras metálicas, minerais, materiais magnéticos, polímeros, nanotubos de carbono, materiais biocompatíveis e cerâmicas, com estruturas na escala nanométrica.

As especificações técnicas de fábrica do FEG-MEV SIGMA VP são listadas na Tabela abaixo. 

Contato:  Tércio Assunção Pedrosa - Este endereço de email está sendo protegido de spambots. Você precisa do JavaScript ativado para vê-lo. - Tel.: +55 31 34399368

Imagem de estrutura de nanoporos de carbono obtida no MEV-CDTN

Mapeamento de elementos em imagens de pino de titânio

Imagem de nanocones de carbono obtida no MEV-CDTN